Πάτρα, 20.06.2012: Την Τετάρτη 20 Ιουνίου 2012 στις 12:00 μ.μ., πραγματοποίθηκε ημερίδα στο Συνεδριακό Κέντρο (Αίθουσα ΙΙ.9, 1ος όροφος) με θέμα διάλεξης : «On-chip communication and reliability considerations in embedded cores» και κεντρικό ομιλητή τον καθ. Σπύρο Τραγούδα, καθηγητή του ECE Dept. & Center for Embedded Systems, του Πολιτειακού Πανεπιστήμιου του Ιλινόις στο Carbondale των ΗΠΑ.
Η ομιλία διοργανώθηκε στο πλαίσιο των δραστηριοτήτων των Ενδο-πανεπιστημιακών Δικτύων “Ενσωματωμένων Συστημάτων”, “Ασύρματων Δικτύων Υπολογιστών και Αισθητήρων” και “Νανοηλεκτρονικής”.
Στις 10 π.μ. προηγήθηκε συνάντηση εργασίας με τα μέλη των τριών Δικτύων και τους Προέδρους των τμημάτων Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής και Ηλεκτρολόγων Μηχανικών & Τεχνολογίας Υπολογιστών, ενώ μετά το πέρας της ομιλίας ακολούθησε συνάντηση με τις πρυτανικές αρχές.
Σύντομο Βιογραφικό
Effective July 1, 2012 he will be the Chair οf the ECE Dept. at SIUC. His current research interests are in the areas of VLSI Design and Test Automation and embedded systems. He has published over 70 journal papers and over 125 articles in peer-reviewed conference proceedings in these areas. He has been funded from industry and federal agencies, including current support by the NSF and the US Navy. Dr. Tragoudas is on the editorial board of several journals, including the IEEE Transactions on Computers. He is a program committee member for many conferences. He has been the program and general chair of the DFTS’09 and DFTS’10, respectively. He received the ICCD'94, ICCD'97 and the ISQED'01 Outstanding Paper Awards for research in VLSI Testing. Dr. Tragoudas is a senior member of the IEEE.